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如何更準確測試晶振的電阻及頻率

來源：http://m.cbjur26.cn 作者：konuaer 2014年09月02

大伙都知道石英晶振制成的晶體振蕩器其頻率穩定性很高，問題就在這？然而我們要如何確定晶振的頻率或判斷晶振是否合格、這當然就要通過一系列的檢測和篩選了，從眾多的晶振中挑選出合格的晶體頻率。給大家介紹一種更準確貼片晶體頻率測試方法，其校頻電路簡單適用，無論用來挑選晶體或檢查晶體的好壞、或校頻等均可使用。

對晶振的負載諧振頻率進行測量其實有很多種方法，那么直接阻抗法就是其中一種，它使用網絡分析儀，比物理負載電容法等其它方法更加準確、方便并且成本更低。本文介紹如何使用直接阻抗法進行測量并通過實測數據說明它好于其它測量方法的原因。

在晶振參數測量中，由于Fs和Fr阻抗相對較低，按IEC 444和EIA 512進行Fs/Fr測量沒有什么困難，問題主要在于負載諧振頻率(FL)的測量，特別是負載電容(CL)很低的時候。晶振在負載諧振頻率處阻抗相對較高，用50Ω網絡分析儀測量較高阻抗要求測量設備具備很高穩定性和高精度，一般來說這樣的要求不切實際，成本太高，因此技術人員又開發了幾種負載諧振頻率測量方法，如計算法、物理負載電容法等，這些方法設計用于測量低阻抗晶振，這樣就可使用低精度設備。我們下面先對各種方法作一比較。

負載諧振頻率測量法，如果已經知道被測器件是一個線性晶振，則可以使用這個方法來測量；但在大多數場合下，需要先有一個測試方法來告訴你它是否是線性的，所以計算法不實用，除非你在測試前已經知道晶振是線性的。

那么晶振的線性度究竟有什么影響呢？從電路應用觀點來看，只要晶振有一穩定(可重復)明確的阻抗-頻率曲線，并且在振蕩器中功能正常，它就是一個好晶振，是不是線性沒有關系，非線性晶振并不意味著是一個壞晶振。

而晶振設計人員則認為，市場趨勢是向小型化方向發展，如AT帶狀晶振和SMD晶振，與大的圓形晶振不同，小型晶振采用矩形坯料，此時再應用四器件模型比較困難。不過測量有問題并不表示它是一個壞晶振，只不過還需要一些能夠在不涉及非線性條件更精確測量晶振的測試方法或系統，以提供更多信息，如寄生模式在不同溫度下對晶振性能的影響情況等。

從晶振測量角度來看，計算法不適用于測試非線性晶振，因為測量精確度取決于晶振特性，而它的差異很大，如果存在其它適用的測試手段就應該放棄使用這種方法。

以上就是康華爾電子為大家作出的晶振測試方法，在這方面我們有著很豐富的經驗和見解，然而我公司也是一個很專業的晶振生產廠家，專門的石英晶體振蕩器顧問，如果你遇到什么晶振上面的問題，可以和我司聯系，我司將會請最專業的晶振專家為你解答。

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